JDS-1立式接触式干涉仪
一. 产品用途
JDS-1立式接触式干涉仪是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各级计量室的基本长度计量仪器之一。
二. 技术规格
1. 被测件最大长度:150mm
2. 工作台行程:5 mm
3. 测杆移动范围:0.5mm
4. 分划板刻度范围:±50格
5. 直接测量范围:5-20μm
6. 分度值调整范围:0.05-0.2 μm
7. 推荐使用分度值:0.1 μm
8. 测量压力:(1.5±0.1) N
9. 仪器示值稳定性:0.02 μm
10. 仪器误差:数字显示
11. 最大测量误差:±(0.03+1.5ni △λ/λ)um
n 是格数, i是格值,λ是滤光片中心波长,△λ是滤光片波长误差
12. 仪器体积:280×500×700 mm
13. 仪器重量:40 kg
三. 标准配置
1. 接触式干涉仪
2. 五筋平台、辅助台、平面平台、玛瑙工作台
3. 平面测帽、小球面测帽
4. 平行平晶
5. 测力装置
6. 调压变压器、照明器
7. 测杆提升器
8. 产品合格证、保修卡及说明书
上海光学仪器厂是国内较早成立大型综合类光学仪器的生产企业,以显微镜、光学仪器、测量工具显微镜、生物显微镜、测量投影仪、影像测量仪、工具显微镜、分光光度计、折射仪等见长,在国内久负盛名。企业全面改制后,开发了与电脑……
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