SG-109JS精密测量显微镜
一. 产品简介
SG-109JS测量显微镜,通过搭配无限远光学显微镜系统、照明裝置及对不同的升降机构和对焦机构的选择,可以组成多款不同功能的显微镜机型;本款产品结合了金相显微镜的高倍观察能力和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能,是同時具有高精度线性測量和观察的多功能量测仪器;可广泛应用 于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光电通讯、基础电子、模具五金、医 疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测;通过选购可以具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。
二.产品特点
1. 采用优异的无限远光学系统,提高成像衬度和清晰度,用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像,通过选购可实现明暗场,偏光,微分干涉等多种成像;
2. 模块化設計,国际NK经典机身设计,可按需加裝不同镜头组及照明系统;
3. 拥有优越的光学性能和超高测量精度,搭配主体的操作平衡性,让之前不可见或几乎不可见的物件如今不仅能观察,还能被测量;
4. 适合高性能零件、电子组件的三维测量;
5. 可轻易测量易碎工件及具有极小细节的工件!
6. 快速释放裝置便于测量大工件或多个数量工件时快速移动工作台,Z轴两侧均配备同轴粗/微调手轮,确保能以快速度实现高精度对焦。
7. 照明系统:LED光源长寿命,快速响应及非常低的热辐射,由于热漂移导致的对焦不准得到显著改善。
三.技术规格
1. 光学系统:无限远光学系统
2. 观察头:30°倾斜,正像,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节 :50-76mm;带有标准相机接口;十字线; 光路径转换(观测/相机 =0/100)
3. 观测方法:明场、简易偏光观测
4. 大视野平场目镜: PL10X/22mm,视度可调,可带测微尺
5. 无限远长工作距平场物镜
放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离(mm) |
PL L5× | 0.10 | 25.00 |
PL L10× | 0.25 | 11.00 |
PL L20× | 0.40 | 8.00 |
PL L50× | 0.75 | 1.90 |
6. 转换器:内定五孔转换器
7. 调焦系统:电动粗微调升降
8. 测量范围(X、Y):150×100mm
9. 工作台尺寸:260×160mm
10. 数显分辨率: 0.0002mm(进口金属光栅)
11. 仪器的回程误差:0.002mm
12. 仪器测量准确度:X 和 Y (2+0.02L)μm,L 为测量长度(单位 :mm)
13. 照明系统:明场反射照明器:带滤色片与偏光装置插槽,带 5WLED 灯源,亮度可调
透射照明装置:绿色LED平行光源,垂直光。
14. 测量软件
① 辅助对焦,十字线采点
② 元素测量与预制:点、线、圆、弧、槽、椭圆、矩形、圆环、云线、角度、焦面;
③ 元素构造:中心点、交点、中点、线、园、角度、距离、云线等的构造;
④ 图形处理:坐标平移、工件摆正、任意轴摆正,坐标系重置圆形缩放、图形平移、图形选中及删除等多种处理,测量更方便更快捷,提高测量效率;
⑤ 测量方法多样(自动寻边、对比测量、局部放大采点),可以满足用户不同需求,大大提高使用的方便性和测量精度;
⑥ 专业统计分析工具,分析图形有平均数全距管制图、直放图、CPK偏移图,利用数据统计原理, 有效控制生产,不断改进品质;
⑦ 测量数据直接发送到AutoCAD中,测量的图形可以用dxf文档保存,也可发送到Excel中进行统计分析
⑧ 计录用户程序、编辑命令、教导执行;
⑨ 支持双显示器和多种语言界面的切换;
⑩ 用户可根据测量精度需求选择多点测量,规定点数测量,放大采点构造,对比方波进行工件测量;
⑪ 软件带有系统误差修正功能。目前可对坐标定位系统误差和垂直度系统误差进行补偿。对坐标定位系统误差的补偿,有线性补偿和区段补偿两种方法可供选用。
四. 配置清单
1. 显微镜主机/1台
2. 平场目镜PL10X/1对
3. 物镜5x、10x、20x、50x/各1只
4. 垂直照明器/1台(在主机上)
5. 手动移动平台/1只(在主机上)
6. 高精度光栅尺/1套(在主机上)
7. 数显表/1只 (在主机上)
8. 数字工业摄像头/1只
9. 测量软件/1套
10. 联想计算机/1台
11. 产品合格证、保修卡及说明书/1份
上海光学仪器厂是国内较早成立大型综合类光学仪器的生产企业,以显微镜、光学仪器、测量工具显微镜、生物显微镜、测量投影仪、影像测量仪、工具显微镜、分光光度计、折射仪等见长,在国内久负盛名。企业全面改制后,开发了与电脑……
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